SII Semiconductor Co., Ltd.（总裁：Nobumasa Ishiai，总部：千叶）是Seiko Instruments Inc.（总裁：Hitoshi Murakami，总部：千叶县千叶市；以下简称SII）的子公司，生产和销售半导体。千叶市（以下简称 SII 半导体）与东北大学大学院工学研究科菅川鸣志教授和黑田理人副教授的研究小组合作，开发了从 UV-A 到 UV-B 的 UV 区域（* 1) 我们开发了使用硅检测紫外线 (UV) 传感器 (*2) 的量产技术,同时开发石英晶体技术。通过获取高灵敏度光电二极管和低灵敏度光电二极管之间的差异，可以在没有滤光片的情况下切断可见光区域。由于没有滤光片，因此可以防止透射率的降低。此外，通过将其安装在小型树脂封装中，可用于智能手机和可穿戴设备。这次共同开发的量产技术是在SII Semiconductor自己的工厂（前端工艺）制造可有效接收UV-A至UV-B波段的传感器的技术（*3）。精工不懈努力突破创新型的SMD晶振Q-SC20S0322070CAAF

近年来，在医疗保健领域，人们对预防晒伤和瑕疵越来越感兴趣。如果精工晶振可以通过智能手机和可穿戴设备轻松测量紫外线，则有望为健康管理和美容医学做出贡献。在工业领域，处理紫外线的设备，例如使用紫外线固化墨水的紫外线固化设备和印刷机的数量正在增加，测量不可见紫外线的需求也在增加。
这次，我们通过硅半导体实现了从引起斑点和皱纹的 UV-A 到引起晒伤的 UV-B 的测量。通过采用小型透明树脂封装，可以使用可穿戴设备进行测量，并且任何人都可以轻松检查紫外线。我们计划在 2018 年春季出货量产贴片晶振产品。作为原型，SII Semiconductor 在 2017 年 1 月举行的可穿戴设备展上展出的配备 UV 传感器的展品就是使用该技术创建的。精工不懈努力突破创新型的SMD晶振Q-SC20S0322070CAAF